Helmut-Fischer FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD

Rentgenfluorescences analīze visaugstākajām prasībām.

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD ir viena no jaudīgākajām rentgenfluorescences iekārtām Fischer produktu klāstā. Paceliet savu mērījumu veiktspēju jaunā līmenī ar šo augstākās klases modeli. Pateicoties mūsu pašu izstrādātajam digitālajam impulsu procesoram DPP+, tagad ir iespējams apstrādāt vēl augstāku impulsu skaitu, tādējādi saīsinot mērījumu laiku vai uzlabojot mērījumu rezultātu atkārtojamību.

• Radīts ilgmūžībai.

Izturīga konstrukcija īpaši augstām prasībām

• Pilnībā automatizējams.

Ļaujiet iekārtai strādāt jūsu labā ar vienu klikšķi

• Ātrai mērīšanai paredzēts dizains.

Dažas vienkāršas darbības – un paraugs ir novietots un gatavs mērīšanai.

Iespējama daudzu detaļu automatizēta mērīšana

• Ātrums.

Pateicoties īsam mērīšanas laikam, jūs ietaupāt vērtīgu laiku

• RoHS analīze.

Piesārņojošo vielu noteikšana ar augstu precizitāti un izcilu veiktspēju

• DPP+ digitālais impulsu procesors.

Īsāks mērīšanas laiks vai uzlabota standartnovirze*
*salīdzinājumā ar DPP

• Mikrofokusa caurule ar volframa anodu
• Silīcija drifta detektors ar īpaši lielu efektīvo laukumu — 50 mm²
• Metālu satura noteikšana galvanizācijas vannās, izmantojot atbilstošus piederumus
• Mērījumu punkta izmērs: apm. Ø 0,25 mm
• Augstāks impulsu reģistrācijas ātrums un ievērojami īsāks mērījumu laiks, pateicoties DPP+ tehnoloģijai
• Pilnas aizsardzības iekārta ar apstiprinātu tipu
• Paraugu augstums līdz 140 mm
• Maināmas diafragmas (4 pozīcijas) un maināmi filtri (6 pozīcijas)

• Funkcionālo pārklājumu mērīšana elektronikas un pusvadītāju nozarē, piemēram, zelta pārklājumu biezuma noteikšana līdz pat 2 nm līmenim
• Plānu un ļoti plānu pārklājumu analīze elektronikas un pusvadītāju nozarē, piemēram, zelta/palādija slāņi ar biezumu ≤ 0,1 μm
• Sarežģītu daudzslāņu sistēmu raksturošana
• Pārklājuma biezuma mērīšana fotoelementu, kurināmā elementu un akumulatoru elementu lietojumiem
• Bīstamu vielu, piemēram, svina un kadmija, mikroanalīze saskaņā ar RoHS, WEEE, CPSIA un citām direktīvām attiecībā uz elektroniku, iepakojumu un plaša patēriņa precēm
• Zelta un citu dārgmetālu, kā arī to sakausējumu analīze un autentiskuma pārbaude
• Fosfora satura tieša noteikšana funkcionālajos NiP slāņos
• Metālu satura noteikšana galvaniskajās vannās