Universāla XRF iekārta plānu un ļoti plānu slāņu (mazāk par 0,05 μm) automatizētai mērīšanai un materiālu analīzei ppm diapazonā.
Plāns, vēl plānāks, XDAL®: Pateicoties mikrofokusa caurulei un dažādiem pusvadītāju detektoriem, FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® sērija ir ideāli piemērota plānu un ļoti plānu pārklājumu (līdz 0,05 μm) mērījumiem, kā arī materiālu analīzei ppm (miljarddaļu) diapazonā. Iekārtas versija ar 50 mm² silīcija drifta detektoru ir piemērota arī RoHS mērījumiem. Pateicoties dažādām konfigurācijas iespējām (galdiņš, diafragma, filtrs un detektors), elastīgā un universālā XDAL® sistēma nodrošina uzticamus un precīzus mērījumus, kā arī garantē pilnīgu drošību.
Ātra un vienkārša
Pārklājuma biezuma mērīšana, materiālu analīze un mikroelementu analīze
Mērījumus iespējams veikt visā parauga virsmā, pat ja paraugi ir lieli
Pārsegs ar C-veida gropi
Ļaujiet iekārtai strādāt jūsu labā ar vienu klikšķi
Ļoti labs kompromiss starp veiktspēju un nepieciešamo vietu.