Helmut-Fischer FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600

Helmut-Fischer FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600

Universālas XRF iekārtas mērījumiem uz vissīkākajām struktūrām, ļoti plāniem daudzslāņu pārklājumiem, funkcionāliem pārklājumiem un ļoti plāniem pārklājumiem (≤ 0,1 µm).

Universāla rentgenfluorescences analīze ļoti plāniem slāņiem.

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 ir Fischer universālais XRF analizators, kas paredzēts plānu slāņu, mikroelementu un sakausējumu noteikšanai. Mērīšanai no augšas paraugu vienkārši novieto uz manuāli vadāma bīdāmā galdiņa. Pozicionēšanai tiek izmantots lāzera rādītājs. Tas nozīmē, ka precīzi un vienkārši var analizēt pat sarežģītas formas paraugus.

  • Daudzpusīgs.

Ideāli piemērots elektronikas un pusvadītāju nozarei

  • RoHS analīze.

Uzticama bīstamo vielu noteikšana

  • Ātras mērīšanas risinājums.

Paraugs tiek ievietots un sagatavots mērīšanai tikai dažos soļos

  • Līdzsvarots.

Optimāla cenas un ieguvuma attiecība

  • DPP+ digitālais impulsu procesors.

Īsāks mērīšanas laiks vai uzlabota standarta novirze*
*salīdzinājumā ar DPP

  • Silīcija dreifa detektors ar īpaši lielu efektīvo laukumu — 20 mm²
  • 4 pozīciju maināmas apertūras un 3 pozīciju maināmi filtri
  • Augstāks impulsu reģistrācijas ātrums un ievērojami īsāks mērījumu laiks, pateicoties DPP+
  • Mikrofokusa caurule ar volframa anodu
  • Paraugu augstums līdz 140 mm
  • Mērījumu punkts: aptuveni Ø 0,15 mm
  • Plānu un ļoti plānu pārklājumu (≤ 0,1 µm) analīze
  • Funkcionālo pārklājumu mērīšana elektronikas un pusvadītāju nozarē, piemēram, uz izvadu rāmjiem, spraudņu kontaktiem vai iespiedshēmu platēm
  • Sarežģītu daudzslāņu sistēmu noteikšana
  • Svina satura noteikšana lodējumos
  • Fosfora satura noteikšana NiP pārklājumos