Call us now: +371 22304738
Close
Piedrujas street 11, ofiss 214, Riga, Latvia, LV-1073
Mon.-Fri. 9.00-18.00, Sat.-Sun. closed
SākumsProduktu katalogsPārklājuma Biezuma MērīšanaHelmut-Fischer FISCHERSCOPE XRF XUV (vaicāt...

Helmut-Fischer FISCHERSCOPE XRF XUV (vaicāt par pieejamību)

Rentgenstaru fluorescences instrumenti ar vakuuma nodalījumu vieglo elementu analizēšanai.

Uzdot jautājumu
Categories: , , Product ID: 2350

Apraksts

FISCHERSCOPE XRF XUV

(vaicāt par pieejamību)

 

XUV® klāsta ierīču vakuuma mērīšanas nodalījums ļauj veikt pārbaudes vieglajiem materiāliem, sākot no nātrija, ar rentgenstaru fluorescences analīzes (RFA) palīdzību. Parasti šo metodi nevar izmantot, jo telpas gaiss absorbē starojumu. Šī iemesla dēļ instruments ir ideāli piemērots ļoti prasīgai pārklājumu biezumu mērīšanai un materiālu analīzes uzdevumiem.

Features

  • Īpaši piemēroti izpētei un attīstībai, pateicoties zemajiem noteikšanas ierobežojumiem, atkārtojamai precizitātei un universāli uzlabojamām mērīšanas iespējām
  • Vakuuma nodalījums un augsta snieguma silikona novirzes detektors precīzai mērīšanai pat viegliem elementiem
  • Automatizēta sērijveida testēšana ar programmējamām X, Y un Z asīm
  • Var pielāgot dažādu materiālu un mērīšanas apstākļu prasībām, izmantojot maināmās apertūras un filtrus

Applications

Pārklājumu biezuma mērīšana

  • Vieglo elementu slāņi, sākot no nātrija, nm skalā
  • Alumīnija un silikona slāņi

Materiālu analīze

  • Dārgakmeņu autentiskuma un izcelsmes noteikšana
  • Vispārēja materiālu analīze un izmeklēšana
  • Elementu analīze ar augstu izšķirtspēju

Līdzīgie produkti

© HES1 2020